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m+p VibControl 2.17

通过我们的演示视频了解最新功能!

新应用亮点

在经典冲击分析中评估SRS——节省时间并进行更详细的分析

现在,您可以轻松显示经典冲击试验产生的 SRS,而无需将经典冲击数据传输到 SRS 模块。这不仅节省了时间,还为更精确地分析试验样品提供了更多选择。

特别适用于:

  • : 用于连续试验的测试机构和大型实验室
  • 使用经典冲击曲线进行试验,作为符合特定 SRS 曲线的简单方法
针对正弦叠加随机信号的切口处理——保护您的被测对象

在正弦+随机混合试验过程中,与较低的宽带随机水平相比,正弦波通常会对测试对象造成较高的风险。通过对正弦波进行限幅,可以加强安全防范措施。限制振幅还能更容易地区分叠加在随机信号上的正弦波。

特别适用于:

  • 汽车和飞机部件测试
结构变化检测模式——缩短测试时间,提升安全性

该功能可在整个振动试验过程中监控共振频率偏移,并在偏移超出配置边界时终止测试。在试验过程中自动检测共振频率偏移可提高安全性,并使测试操作员能够专注于其他任务。

特别适用于:

  • 随机试验持续时间为 8 小时或更长的汽车实验室

测试与自动化改进

数字通道逻辑与运算——灵活触发模式,实现更精准的测试

现在,您可以使用逻辑 AND 运算,根据组合数字通道触发振动测试。例如,当环境箱达到特定温度且附加安全检查继电器通过时启动测试。这可确保试验精确和符合规范,并便于验证试验的准确启动。

特别适用于:

  • 三方实验室、汽车和铁路实验室
  • 客户在测试过程中使用环境箱、外围设备以及电动马达、显示器或电池等供电测试样品
新型正弦驻波类型:Log 和 R40——增强对宽频率范围的覆盖

两种新的正弦驻留类型提高了振动试验设计的灵活性,是宽频率范围测试的理想选择。Log间隔驻留频率和 Renard 系列 R40 的驻留频率可提高覆盖范围并缩短测试时间。

特别适用于:

  • 测试需要在大频率范围内工作的抗震设备
提高采样率——采用高过采样率进行测试

通过将 m+p VibRunner 硬件与 AI820 数据采集模块相结合,现在可以实现高达 204.8 kHz 的采样频率。这些数据可以直接流盘到固态硬盘,以获得稳定通程时域激励,从而为高超采样要求选择最佳采样频率。

特别适用于:

  • 为航空航天测试捕捉冲击和其他瞬态事件
固件更新工具——轻松维护您的测量前端

m+p 硬件的固件更新现已顺利纳入 VibConfig。直接从 "设备 "窗口轻松查看和更新测量前端的固件,实现高效管理。

改进均方根(RMS)历程报告——验证测试成功

在随机试验和正弦+随机混合试验中,随时间变化的有效值数据现在会被一致地保存到结果文件中,即使是完全成功的测试也是如此。增强的试验文档提供了在指定参数范围内成功试验的证明。

特别适用于:

  • 在各种应用中进行单个或多个量级的随机振动测试
禁用低级别中止操作——避免不必要的工作流中断

在经典冲击重复脉冲模式下,现在可以禁用小量级冲击的中断限制。这可以防止在小量级试验优化期间中断工作流程,并实现无缝系统设置。

特别适用于:

  • 设置新的冲击试验
  • 在放大到试验量级之前,在小量级上评估控制质量

改进用户界面

Q因子用户界面改进与灵活校正——防止意外计算

现在,您可以显示和调整用于计算 Q –值的频率范围,以避免无效计算附近或不规则的峰值。方便的 Q –值列表视图包括设定的限制,并能自动放大列表中的每个特定 Q – 值。

特别适用于:

  • 与仿真结果比较共振频率和阻尼(Q – 值)
  • 共振峰间距较近,情况不明确,例如对称结构、强阻尼
可在 VibEdit 中设置通道颜色——确保测试与后处理的视觉效果保持一致

在 VibEdit 中,您现在可以轻松地为与指定通道相关的图表指定特定颜色。所选颜色将一致应用于所有程序组件,从而确保测试和后处理视觉效果的统一。

特别适用于:

  • 需要在整个工作流程中实现标准化可视化的测试部门和实验室
通道表中显示的传感器校准日期——绝不错过任何一次传感器校准

在传感器设置中显示校准日期可让您立即了解传感器何时需要校准。经过有效校准的传感器可确保获得高质量的振动测试结果并符合规范要求。

特别适用于:

  • 需要校准传感器以进行符合标准的测试的测试部门和实验室
延长显示时间:已过/剩余 一目了然地查看测试进度

弹出式控制数据对话窗口现在可显示振动试验的所有相关时间信息。您可以轻松跟踪整个试验和单个量级的剩余时间和已用时间。