应对大通道数应用挑战
效率
m+p VibRunner 数据采集(DAQ)系统采用模块化设计与易维护架构,搭建快捷、维护简便。布线工作量的降低保障了高效的系统配置,同时最大限度缩短停机时间。
安全
稳定的网络通信与数字 I/O 接口保障了可靠运行,即便在复杂测试环境中也能稳定工作,让您全程完全掌控系统状态。
灵活
m+p VibRunner 可随需求灵活扩展:无论是作为模块化方案还是整套机架式系统,平台均具备完全可扩展性。模块可轻松更换,应变测量专用桥路模块可覆盖各类特殊应用场景。
质量
多通道同步采集与高精度测量、输出通道确保了顶尖的数据质量。即便在最复杂的测试部署中,m+p VibRunner 也能输出精准、可复现的测试结果。
面向复杂测试部署的可扩展数据采集系统平台
模态分析面向振动与过程测试的灵活高端平台
m+p VibRunner 是一款高性能测量平台,可胜任振动测试 (vibration testing)、模态分析 (modal analysis)、声学控制 (如 DFAN)、超声波、爆炸冲击(pyroshocks)及应变测量等各类高要求测试任务。该平台搭配 m+p VibControl、m+p Analyzer、m+p Coda 软件解决方案进行应用,适用于试验台、状态监测以及声学或结构测试场景。
模块化、高效率、易维护
每台 m+p VibRunner 设备采用紧凑的 19 英寸机箱设计,最多支持 3 块插卡,单卡 8 通道,即单设备最多可提供 24 路模拟输入。不同板卡可灵活组合;设备维护时仅需更换故障板卡,无需整机返厂,操作人员可直接完成板卡更换操作。
适用于复杂部署的机架式解决方案
针对大型试验台或中央实验室场景,我们提供完整的机架式解决方案 —— 可选配脚轮实现移动部署,内置配套供电系统、通风系统与预布线。可将多套 m+p VibRunner 数据采集系统集成至机架中,完美适配大通道数应用或固定测量站场景。
高精度测量与输出通道
模拟信号输入通道具备 24 位分辨率、最高 204.8 kHz 采样率,支持 IEPE 传感器供电、TEDS 自动识别、差分连接,拥有 > 120 dB 无杂散动态范围 —— 可精准捕捉微弱振动、超声与爆炸冲击信号。针对受控测试或声控(DFAN)场景,设备提供 2~32 路 24 位输出通道;出现干扰时,信号可安全置零,全方位保护受试件与振动台。
用于应变测量的桥路模块
专用 8 通道桥路模块可实现精准的机械应力分析(支持 1/4 桥、半桥与全桥配置),是结构测试(如汽车与航空航天领域测试)中不可或缺的硬件,也让 m+p VibRunner 可全面覆盖实验应力分析类应用。
布线量极少的同步多通道测量
多台 m+p VibRunner 设备可通过主时钟以菊花链方式实现同步,无需长距离传感器线缆,即可在远距离范围内实现测量点的精准同步采集。系统配置灵活,支持单设备独立运行或多设备同步组网。
数字 I/O 接口与稳定网络通信
每套 m+p VibRunner 数据采集系统均配备 8 路数字输入与 8 路数字输出,可直接连接外部系统(如环境试验箱、警示灯、开关逻辑单元)。搭配 m+p VibUtil 可实现自动化测试序列与状态查询功能。设备通过 1 Gbit/s 以太网接口在专用安全子网中传输数据,通信稳定可靠。
服务
测试与测量硬件案例研究
NASA | US
Safeguarding the James Webb Space Telescope
Aerospacelab | Belgium
High-Frequency Multi-Axis Vibration Testing
CAST | China
High-Channel Count Vibration and Modal Testing of Spacecraft
Johns Hopkins University APL | US
Vibration Testing System
测试与测量硬件相关资源
近期活动
m+p VibRunner - 常见问题
该硬件可搭配振动控制器 (vibration controllers) 或动态信号分析软件使用,从加速度计、麦克风、应变片、转速计等传感器采集高精度测量数据。典型测试环境包括振动实验室、科研机构及工业试验台。
m+p VibRunner 是一款多通道测量硬件平台,适用于噪声与振动分析、振动测试 (vibration testing) 及动态数据采集,可支持模态测试 (modal testing) 、结构分析、疲劳测试 (fatigue testing) 及过程监测等多种应用。
针对需大量测量通道的应用场景,可将多台 m+p VibRunner 前端设备同步联动,作为整套系统统一运行。各设备通过主从时钟同步(master-slave clock synchronization)方式连接,可靠近测点布置,减少传感器布线长度。
