m+p Analyzer 基础——测量数据与元数据的使用
m+p Analyzer 是本期的主题是测量振动数据并提供可追溯的结果，这些结果甚至可以在数年后进行回顾和分析。在第 6 期中，我们将介绍测量对象的数据结构及其属性和元数据。您将学习如何在测量、查看数据集和数据后处理过程中使用元数据标签。
乍一看，获取数据主要是对电压信号（可能是加速度、压力、温度等）进行采样，并将这些采样值保存到硬盘中。- 然后将这些采样值保存到硬盘中。但这仅仅是生产设置中的要求： 我们可能不仅要保存时间采样数据，还要保存频谱、PSD、FRF、倍频程等数据。虽然实际采样值是最重要的，但与测量过程相关的属性，如采样率、通道名称、参考值等也需要可追溯。在 m+p Analyzer 中，我们通过一个由数据、属性和元数据三大部分组成的测量数据结构来解决这个问题。
数据：实值或复值阵列，保存时域/频域/倍频程域的测量/处理数据
属性：与数据直接相关的值，例如采样率或通道名称
元数据：用户定义的附加信息，例如样本名称或传感器校准日期
许多工程任务包括重复测量类似的测试样本，或在稍有不同的测试设置（环境温度、安装等）下测量相同的样本。在这些需要区分重复测量的情况下，元数据和自动弹出功能可能会派上用场。事实上，m+p Analyzer 的一些内置测量模式在很大程度上依赖于这一功能，例如我们将以冲击捕捉为例：
首先打开 "Configuration（配置）"，点击下方的 "Advanced（高级）"，然后选中 "Meta-data（元数据）"。现在你会发现一个名为 "元数据 "的选项卡。通过该选项卡，用户可以指定适合给定测量任务的自定义元数据标签。它是通过电子表格中的名称/值对来指定的。名称 "字段是 m+p Analyzer 识别元数据的方式，如公司、样本编号、操作员等，随后可用于过滤数据。值字段是实际内容，可以是文本、日期或预定义值列表。例如，如果只测试三个标本，可以指定一个列表，在测试过程中只需从下拉菜单中选择正确的标本，而不用每次都写出名称。
自动提示元数据 "复选框可启用自动弹出功能，在开始测量时弹出元数据屏幕。下面的示例展示了如何配置 m+p Analyzer 并启用自动弹出元数据功能。
您可以在测量编辑器中查看和编辑测量的所有数据、属性和元数据。选择多个测量值，可同时块编辑不同测量值的多个数值。
所有元数据标签都可以在浏览器中显示为列标题。列筛选器（另见上期通讯第 5 期）也可应用于元数据，以筛选类似的标记测量值。